掃描電鏡和電子探針分析技術(shù)培訓(xùn)要點

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1、 掃描電鏡和電子探針分析技術(shù)培訓(xùn)要點 掃描電鏡和電子探針分析技術(shù)培訓(xùn)要點 目標 了解掃描電鏡和電子探針的基本結(jié)構(gòu)與原理 , 了解掃描電鏡和電子探針檢測 / 校 準項目及相關(guān)要求 , 掌握國家標準中掃描電鏡和電子探針的檢測方法 , 掌握掃描電鏡 和電子探針測量數(shù)據(jù)的結(jié)果處理方法及測量結(jié)果不確定度評定的基礎(chǔ)知識。 1、掃描電鏡和電子探針分析技術(shù)基礎(chǔ) (1) 電子探針和掃描電鏡 X 射線能譜定量分析方法通則 (2) 掃描電鏡的結(jié)構(gòu) , 電子束與固體樣品的相互作用 , 表面形貌分析基礎(chǔ) ,X

2、射線能譜 ,EDX,分析基礎(chǔ) , 電子背散射衍射技術(shù) ,EBSD,分析基礎(chǔ)。 2 、掃描電鏡 和電子探針分析技術(shù)的儀器設(shè)備操作技術(shù) ,1, 掃描電鏡的成像原理與基本構(gòu)成～各部件的用途和操作技術(shù)。 ,2,X 射線能譜儀的結(jié)構(gòu)與分析軟件～測量前的準備、測量條件的選擇～定量分 析修正方法。 ,3,EBSD 系統(tǒng)附件的構(gòu)成、工作條件、背景扣除、樣品處理。 3 、掃描電鏡和 電子探針分析技術(shù)的標準方法與應(yīng)用技術(shù) ,1,GB/T 17359-1998, 掃描電鏡和電子探針 X 射線能譜定量分析方法通則 ,2,GB/T 16594-1996, 微米級長度的掃描電鏡測量方法 ,3,GB/T 19501-2004, 電子背散射衍射分析方法通則 ,4,GB/T4930-93 ～電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件 4、掃描電鏡和電子探針分析技術(shù)的數(shù)據(jù)分析與處理 能譜成分分析案例