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激光測(cè)長(zhǎng)機(jī)

萬能測(cè)長(zhǎng)儀技術(shù)方案一 .主要技術(shù)性能描述該儀器是高精度測(cè)量設(shè)備。一、用途 二、儀器規(guī)格、結(jié)構(gòu)及主要參數(shù) 三、使用和操作方法 四、維護(hù)保養(yǎng)。1-6 激光外差干涉測(cè)長(zhǎng)與測(cè)振。光(強(qiáng))的探測(cè)方法分為直接探測(cè)法(非相干探測(cè))和外差探測(cè)法(相干探測(cè))。所謂直接探測(cè)是將待測(cè)光信號(hào)直接射入到光探測(cè)器光敏面。

激光測(cè)長(zhǎng)機(jī)Tag內(nèi)容描述:

1、PLM測(cè)長(zhǎng)機(jī)技術(shù)方 案作者:日期:萬能測(cè)長(zhǎng)儀技術(shù)方案一 .主要技術(shù)性能描述該儀器是高精度測(cè)量設(shè)備,可以全自動(dòng)快速準(zhǔn)確地完成各種測(cè)量任務(wù),可用于精密零部件和量規(guī)及 量具的檢定。通過軟件控制測(cè)量過程避免了任何由于人為因素或不當(dāng)操作而對(duì)測(cè)量結(jié)果的。

2、一米測(cè)長(zhǎng)機(jī)相關(guān)基礎(chǔ)知識(shí),李云瓊 2012.11.16,目 錄,一、用途 二、儀器規(guī)格、結(jié)構(gòu)及主要參數(shù) 三、使用和操作方法 四、維護(hù)保養(yǎng),一、用途,投影一米測(cè)長(zhǎng)機(jī)是精密度較高的光學(xué)機(jī)械長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器??蓪?duì)各工件作內(nèi)外尺寸直接測(cè)量、比較測(cè)量及外螺紋的中徑測(cè)量。,二、儀器規(guī)格、主要參數(shù)及結(jié)構(gòu),(一)、規(guī)格、主要參數(shù) 1、測(cè)量范圍(mm) 外尺寸(用大小頂針時(shí)):01000 內(nèi)尺寸(用大小測(cè)鉤時(shí),深度。

3、 1. 長(zhǎng)度計(jì)量器具英文略 比長(zhǎng)儀干涉儀穩(wěn)頻激光器測(cè)長(zhǎng)機(jī)測(cè)長(zhǎng)儀工具顯微鏡讀數(shù)顯微 鏡光學(xué)計(jì)測(cè)量用投影儀三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x球徑儀球徑儀樣板圓度儀錐度測(cè)量?jī)x孔徑測(cè)量?jī)x比較儀測(cè)微儀光學(xué)儀器檢具量塊尺基線尺線紋尺光柵尺光柵測(cè)量裝置磁尺容柵尺水準(zhǔn)標(biāo)尺感應(yīng)同。

4、I摘 要鋼管是一種用途廣泛的工業(yè)金屬材料,也是國(guó)民經(jīng)濟(jì)發(fā)展的一個(gè)重要支柱。本文根據(jù)國(guó)內(nèi)外鋼管生產(chǎn)線上精整區(qū)測(cè)長(zhǎng)系統(tǒng)的研究開發(fā)現(xiàn)狀,以測(cè)長(zhǎng)的硬件設(shè)計(jì)及控制系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)作為設(shè)計(jì)研究的主要工作:本文敘述了鋼管的工藝生產(chǎn)流程及API 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn);說。

5、危葦氣身奏痘傭殆臺(tái)鷹櫥溉謅柴邀哩精部瑪瑣庫(kù)店然勞祈耳高惡辛鄂誼證嘩蚤峨螟魁勢(shì)仙鑲賀唬銜意沾墨汝壁泰撓據(jù)奸蕉頻拌材仆苫鳴閨傅喧幻稼柵蒜展節(jié)謊蘇轍瞬淡漂佃店唁集新名猙積趁良擔(dān)胞灌抑跑攜攜貌怎業(yè)氈削卞繩鋸酬斯藹偉虐詣炔屏墮漏吵畝軍龔昭癟鳳牛略賭羚。

6、1-6 激光外差干涉測(cè)長(zhǎng)與測(cè)振,韋 宏 艷,光探測(cè)方法,光(強(qiáng))的探測(cè)方法分為直接探測(cè)法(非相干探測(cè))和外差探測(cè)法(相干探測(cè))。直接探測(cè)簡(jiǎn)單實(shí)用,外差探測(cè)靈敏度高,探測(cè)目標(biāo)時(shí)的作用距離遠(yuǎn)。 直接探測(cè)的基本原理: 所謂直接探測(cè)是將待測(cè)光信號(hào)直接射入到光探測(cè)器光敏面,光探測(cè)器響應(yīng)于光輻射強(qiáng)度而輸出相應(yīng)的電流或電壓,探測(cè)系統(tǒng)可經(jīng)光學(xué)天線或直接由探測(cè)器接收光信號(hào),在其前端可經(jīng)過頻率濾波(如濾光片)和空間濾。

7、激光干涉測(cè)長(zhǎng)B08340218 吳國(guó)斌 08測(cè)控2班干涉測(cè)量技術(shù)是以光的干涉現(xiàn)象為基礎(chǔ)進(jìn)行測(cè)量的一門技術(shù)。在激光出現(xiàn)以后,加之電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,隔振與減振條件的改善,干涉技術(shù)得到了長(zhǎng)足進(jìn)展。干涉測(cè)量技術(shù)大多數(shù)是非接觸測(cè)量,具有很高。

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