工程科技微電子學前沿問題ppt課件
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DSM/VDSM與納米尺度IC設計,SOC是DSM/VDSM與納米尺度IC 精確的模型 統(tǒng)一的物理設計方法 納米(90nm)尺度IC設計方法 超越傳統(tǒng)金屬/介質系統(tǒng)的互連線新概念,1,SOC 是DSM/VDSM與納米尺度IC,SOC的特點 一定是采用深亞微米/超深亞微米(DSM/VDSM)工藝制造的。通常DSM指0.5?m,而VDSM指0.18?m,而納米尺度指0.1?m(100nm) SOC要求面積小、密度高;速度快、性能高;電壓/功耗低、可靠性高。其中性能是核心 精確的模型 器件模型 邏輯元件模型 互連線模型 統(tǒng)一的物理設計方法 納米(90nm)尺度IC設計方法,2,精確的模型,用于SPICE模擬的精確器件模型 DSM/VDSM下的問題 器件中原來的次要(二級)效應成為一級效應 短、窄溝效應、DIBL等 強場效應:熱載流子;速度飽和等 襯底雜質非均勻分布、器件結構變化 源漏寄生電阻 亞0.1微米效應:柵耗盡;速度過沖;量子效應等 一維模型成為二、三維模型 實驗發(fā)現(xiàn),不同幾何尺寸(W, L)器件的電學特性也不相同 射頻(RF)模擬電路要求非常精確的模型 工業(yè)標準電路模擬器STAR-HSPICE所用的模型,3,BSIM 短溝絕緣柵場效應晶體管(Berkeley Short-channel IGFET)模型 基于準二維分析,考慮了DSM、VDSM尺寸器件的各種效應,是新發(fā)展起來的基于物理機理的模型 版本進化 BSIM3V3.2:6/16/1998 BSIM3V3.2.4:1/1/2002 BSIM3V3.3:7/29/2005 BSIM4.3.0:5/9/2003。適于亞0.1微米MOS器件。以及BSIMSOI3.1.1:2/28/2003 BSIM4.5.0: 7/29/2005 實例:TSMC 0.18?m CMOS器件的BSIM3-SPICE模型 PMOS、NMOS各12個Level-49模型 W范圍4個:101~10.1、10.1~1.3、1.3~0.6,0.6~0.22?m L范圍3個:21~1.2、1.2~0.5、0.5~0.18?m 工藝偏差各分三種:Typical,F(xiàn)ast,Slow 每個模型163個參數(shù) 共72個模型,總計11,736個參數(shù),北京郵電大學自動化學院,4,BSIM模型的演化 CMC(Compact Model Coucil)組織 1995年3月由TI、IBM、Hitachi、Infineon、AMD、Motorola等公司發(fā)起,現(xiàn)有23個大公司成員 旨在促進電路模擬用器件緊縮模型的發(fā)展與標準化,5,器件模型新進展:0.1微米;射頻;低壓低功耗 BSIM4: UC Berkeley by Chenming Hu, Mansun Chan, Xuemei (Jane) Xi, Kanyu M. Cao, Hui Wan, Wendong Liu, Xiaodong Jin, Jeff Ou MOS9, 11: Philips Reserch Laboratories by D.B.M. Klaassen, R. van Langevelde, A.J. Scholten EKV: Swiss Federal Institute of Technology by Christian Enz, Francois Krummenacher, Eric Vittoz HiSIM: Hiroshima(廣島) University, STARC by M.Miura-Mattausch, H.Ueno,6,射頻(RF)下的器件模型 RF-MOSFET的性能 fT:增益帶寬 Ga:增益 NF:噪聲系數(shù),,7,準靜態(tài)(QS)模型到非準靜態(tài)(NQS)模型 QS忽略了溝道電荷建立需要時間 NQS采用溝道電荷弛豫時間方法,8,,9,QS與NQS模擬比較,10,射頻下MOSFET等效電路,11,射頻無源元件 片上電感:CMOS襯底射頻損耗導致低Q值。兩種 壓焊線(bondwire)電感: 0.1-4nH;Q值~50(2GHz);容差~+/-20% 平面螺旋電感(planar spiral): ~100nH; Q值~10;自諧振問題嚴重;占用面積大 缺乏電感普適性模型:當前只有經驗性模型,滿足高準確度的要求 片上電容 構成方法 柵電容:單位面積電容值最大,必須工作于強反型區(qū),線性范圍有限 金屬-絕緣體-金屬(MIM)電容,它具有很好的線性范圍 多晶硅-氧化層-多晶硅(POP)結構的平行板電容 集成變容管:二極管型調節(jié)范圍典型值為10%;反型模式可調節(jié)范圍仍受限于源漏寄生電容;積累模式可調節(jié)范圍可以達到30%;柵控模式可調節(jié)范圍可達53%,12,用于邏輯模擬的精確元件模型 常規(guī)的延時模型: Td_total = Td_intrinsic + kCload 采用線性的負載電容關系 DSM/VDSM下的問題 邏輯元件延時與負載電容呈非線性關系 與輸入信號變化斜率(ISM)有關:Ttotal=f(ISM, Cload) 解決辦法 新的延時模型采用4x4矩陣表 + 線性內/外插方法 實例:全加器模型,共48個4x4矩陣、768個參數(shù) 輸入a、b、c,輸出本位和s、進位co 延時關系 對a與s間的延時關系有8種情況 a、b、c排列組合3種 每種4x4矩陣表 對s、c兩個獨立輸出的延時 共48個4x4矩陣、768個參數(shù),13,用于布線后仿真的精確互連線模型 DSM/VDSM下的問題 一維模型 ? 二、三維模型 集總電容模型? RCL傳輸線的RC樹型分布網(wǎng)模型 接觸電阻和源漏電阻:注入、擴散區(qū)成為高阻區(qū) 金屬線覆蓋電容和邊緣電容:平行板電容模型精度差 解決方法 采取逐線提取(net-by-net extraction)、全3D場方程解法 對于初始提取得到的復雜RC網(wǎng)絡約簡提高提取速度 用與直接制造、測試數(shù)據(jù)比較的方法進行校準,以保持5%的精度 在互連線延時占優(yōu)勢的情況下,不僅SOC設計、驗證,而且功耗、時序、信號完整性與可靠性分析都需要互連線信息的精確、快速提取,14,統(tǒng)一的物理設計方法,DSM、VDSM工藝下互連線延時占優(yōu)勢的基本事實震撼了傳統(tǒng)的設計方法 問題 傳統(tǒng)設計過程劃分為前端網(wǎng)表設計和后端物理設計 互連延時只有在后端物理設計的布局、布線完成后才能精確知道,則在前端網(wǎng)表設計時缺少主要的延時信息 當后端物理設計不能滿足時序要求時很難預料前端設計的改進方向 前后端設計脫節(jié)產生的盲目性導致了設計迭代次數(shù)增加,甚至造成迭代過程不收斂(convergency, closure)的致命問題 布局、布線穩(wěn)定性的概念 網(wǎng)表變化時,版圖變化不劇烈 設計迭代可收斂 在設計初期就能對互連拓撲關系盡量精確地模型化,以布局規(guī)劃(Floor-planning)為代表的物理綜合成為SOC設計關鍵 將對互連有關鍵影響的物理特性融入到前端設計中,保持時序在整個設計流程中的精確性與一致性,15,物理綜合方法 初始輸入 高層次網(wǎng)表(RTL模塊為空)、硬IP的時序和物理模型、高層次設計約束、I/O布局 黑盒子規(guī)劃 初始布局:空RTL模塊(其時序與面積由用戶根據(jù)快速特性模型預估)、硬IP模塊 電源總線規(guī)劃:為更精確地預見整體設計 設計規(guī)劃總體布線器快速粗布頂層布線網(wǎng),并預估模塊間互連延時。發(fā)現(xiàn)時序與布線擁擠問題時及時調整模塊劃分,重復迭代 寄生參數(shù)提取對頂層線網(wǎng)生成精確延時模型,傳給設計預算器 預算器產生每個模塊的物理可知的綜合約束 輸出:初始布圖、初始頂層電源規(guī)劃、各模塊初始綜合約束、初始頂層布線 RTL規(guī)劃 寫出RTL模塊,由RTL預估器根據(jù)綜合約束生成預估門級網(wǎng)表 基于這一更精確的RTL描述布局布線、調整迭代、產生延時模型 輸出:各模塊的“全定制”線負載模型、細化調整的整體布局和物理設計、調整后的各模塊設計預算,16,門級規(guī)劃 由各模塊“全定制”線負載模型和調整后的各模塊設計預算對每個RTL模塊再綜合(并行)生成最后網(wǎng)表 對每個RTL模塊詳細布局布線(并行)、產生RTL模塊和整個芯片的時鐘樹 發(fā)現(xiàn)時序問題:調整單元、管腳;改權重、布圖拓撲結構;對問題大的模塊重新綜合 發(fā)現(xiàn)布線擁擠問題:除上述方法外,頂層重新布線 輸出:最后的整體布局、管腳分布和頂層布線;各模塊門級網(wǎng)表和詳細布局;時鐘樹綜合結果、緩沖器分配 布線與物理設計 在門級規(guī)劃基礎上,完成各RTL模塊最后布線。只需細微優(yōu)化(調整門的大小、插入緩沖器等),即可解決布線后發(fā)現(xiàn)的時序問題,17,納米(90nm)尺度IC設計方法問題,設計實現(xiàn)納米尺度IC,開始于互連、也結束于互連 互連占優(yōu)勢 Al-SiO2 :~0.25μm Cu-lowκ:~0.13μm 90nm時,互連延時會占總延時的75% 互連延時性質變化 信號完整性(SI) 電源線網(wǎng)壓降(IR drop) 90nm設計的時序分析若不包括SI、IR drop將是沒有意義的,18,SI與IRdrop問題 交叉耦合(cross coupling) 寄生電容:從與地線耦合 (與線長成比例)擴展到與 鄰線耦合(不再與線長成 比例) 鄰近線間電容交叉耦合導 致延時不規(guī)律地變化 右圖為0.18 μm工藝下, 線距為1x和2x的變化例子。 1x時: 1mm線長:+/-30% 3mm線長: +80%/-60% 電源線網(wǎng)的壓降(IR drop) 電源/地(PG)線網(wǎng)的電阻產生IR drop,隨特征尺寸減少而迅速增加 電源電壓因IR壓降從1.7V降到1.6V會引起50%以上的延時變化 有研究表明, 0.18 μm的設計僅因這一額外的IR drop問題導致20%設計在首次投片失敗,19,持續(xù)收斂方法 傳統(tǒng)的線性設計流程不再有效,需要新的設計策略 布局規(guī)劃是不夠的 物理綜合是不夠的 納米設計方法——持續(xù)收斂技術 每日虛擬出帶(virtual tape-out every day)方法 初始全芯片設計表示:硅虛擬原型(Silicon Virtual Prototype, SVP) SVP并發(fā)地處理設計和可制造性的所有問題 每天通過虛擬出帶看到朝著最終目標可預測、可測量的系統(tǒng)進展,20,硅虛擬原型(SVP):是持續(xù)收斂方法的關鍵 它必須是一個足夠接近于出帶質量的全芯片實現(xiàn) 其迭代速度足夠快,以便嘗試不同方式的實現(xiàn) 是一個集成了所有EDA工具的通用設計平臺,21,,對層次化與高容量flat能力支持的需求 層次化:面對1billion器件的SOC設計必須層次化 高容量flaten能力:模塊規(guī)模~10M器件,希望不采用嵌套(開銷、優(yōu)化限制)方法 納米布線需要:在初始、最終階段都重要 考慮物理的布線(Physical-aware Routing) 考慮制造的布線(Manufacturing-aware Routing) 復雜設計規(guī)則:銅制程、多通孔、變寬度/間距布線、天線效應。。。 光學鄰近效應修正(Optical Proximity Correction, OPC)與相移掩模(Phase Shift Mask, PSM) 大量布線能力與性能:10M門/日;并發(fā)尋址寄生參數(shù)提取、靜態(tài)時序分析(STA)和信號完整性分析(SI),22,納米IC設計物理分析需要 所見非所得(What you see is not what you get):需要納米級的精確分析工具 寄生參數(shù)提?。簡卧P蛻斒莍nstance-specific 延時計算:考慮動態(tài)延時 信號電遷移:Cu制程也有電遷移,包括AC(300MHz)、DC引起的電遷移 電源網(wǎng)格分析:PG網(wǎng)占總連線約三分之二,要考慮IR和EM 電感:與SI密切相關,23,小結:納米尺度IC設計技術問題,多數(shù)與互連線相關 設計尺寸與復雜性:是層次化設計,則與互連線相關 需解決:設計能力;提早的精確分析;層次化管理 基于SI和IR的定時:與互連線相關 精確定時需要:實際的連線;先進的互連線模型;復雜的物理分析 IR drop(電源/地網(wǎng)設計) :與互連線相關 需解決:性能與抗噪;PG網(wǎng)抗電遷移的穩(wěn)健性;降低功耗、漏電等問題 串擾與電感:與互連線相關 需解決:串擾引入的噪聲 (SI);電感引入的效應(互連線串擾、PG網(wǎng)振鈴) 電遷移(EM):與互連線相關 需解決:電子風引起的金屬空洞與堆積;互連線自熱效應 數(shù)字-模擬集成: 50%的SOC含A/MS。與互連線有些相關(somewhat) 功耗:與互連線有些相關(somewhat) 系統(tǒng)信號傳輸:考慮封裝。與互連線相關 制造規(guī)則:銅互連、CMP、EUV光刻、天線效應等導致復雜設計規(guī)則。與互連線相關 成品率優(yōu)化:設計中值技術取代工藝角方法。與互連線相關,24,超越傳統(tǒng)金屬/介質系統(tǒng)的互連線新概念,新概念 設計選擇:通過設計修改全局互連。方法、工具、異步(取消全局互連) 封裝中間互連:將部分性能要求高的互連移到封裝——“sea of leads”。成本、可靠性問題 3D互連:認為是獲得高密度封裝與互連最有效方法,多層疊放、3D集成repeater達到減少全局互連延時。散熱問題 RF/微波互連:片上局域網(wǎng)(LAN on a Chip)。成本、面積、功耗、新系統(tǒng)架構問題 光互聯(lián):認為是解決全局互連的主要選擇。光信號、設計工具問題 其他方法:納米管、自旋耦合、分子互連等,25,說明 全局互連線 用插入重復器(repeater)減少延時 確定全局互連線長、寬 確定插入重復器(反相驅動器)的數(shù)目 確定驅動器的晶體管尺寸 存在反相器鏈晶體管尺寸的優(yōu)化問題,26,3D-IC互連:文獻報道的三種方法,(a) Saraswat,(b) Neudeck,(c) Antoniadis,27,RF/微波互連 共平面波導:CPW (coplanar waveguide) 微帶傳輸線:MTL (microstrip transmission line) 芯片間通信是通過在MCM內的微型無線局域網(wǎng)(M-WLAN),28,用于互連的硅微光學(Silicon Micro-photonics) 硅微光學可能是解決進入納米尺度SOC互連的主要途徑 光學元件 光產生:例如,硅-鉺激光二極管(Si-Erbium LED) 光傳播:例如, Si/SiO2光纖 光探測:例如,Si/Ge探測器,29,優(yōu)點 將互連線LRC引起的延時最小化 提供精確的時鐘分布與系統(tǒng)同步 大大減少因互連線引起的功耗 大大改善因互連線引起的串擾、電壓隔離、阻抗匹配、管腳電感等問題,30,SOC設計、驗證與IP復用,31,軟硬件協(xié)同設計方法,軟硬件協(xié)同設計(HW/SW Co-design)的主要內容 系統(tǒng)的劃分(Partitioning)理論與技術 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的評估函數(shù);劃分算法 兩個層次:軟件與硬件的功能劃分;各自內部功能的劃分 軟硬件協(xié)同分析、驗證(理論和技術)和測試方法 軟硬件的生成與優(yōu)化(綜合的理論與技術) 主要設計步驟 系統(tǒng)建模 數(shù)據(jù)流圖(DFG):適于DSP系統(tǒng) 有限狀態(tài)機(FSM):適于控制為主系統(tǒng) 通信順序處理(CSP) 程序狀態(tài)機(PSM):適于控制/數(shù)據(jù)為主系統(tǒng),軟件應用 VHDL/Verilog:硬件與某些軟件應用,32,系統(tǒng)方案評估 性能 硬件:速度或數(shù)據(jù)率、芯片尺寸、可測試性、功耗等 軟件:執(zhí)行時間、程序/數(shù)據(jù)/存儲器的尺寸、流水作業(yè)性等 成本:經費成本、設計人力成本等 迅速產生對系統(tǒng)的一系列軟硬件劃分方案以供選擇 優(yōu)化的劃分方案 準備工作:定義目標粒度;選擇設計標準;選擇評估模型;定義衡量劃分質量的單一成本值 尋找大量可能劃分的一個優(yōu)化的子集 協(xié)同綜合 軟件綜合:用傳統(tǒng)的編譯器把復雜描述轉換為傳統(tǒng)軟件程序 硬件綜合: 高層綜合:算法級綜合、行為級綜合、系統(tǒng)級綜合 RTL綜合:包括順序綜合、邏輯綜合、工藝映射 協(xié)同模擬:RTL(硬)+指令集(軟),33,SystemC與OSCI 1999年9月27日成立開放SystemC促進會(OSCI,Open SystemC Initiative),主要的發(fā)起單位有Synopsys、CoWare、Frontier、VSIA等50多個EDA、系統(tǒng)和IC公司 SystemC 是近年來發(fā)展的一種基于C/C++風格的、有利于系統(tǒng)級IP建模與交換的系統(tǒng)描述語言 旨在建立推動SOC設計產業(yè)的、具有互操作性的工具平臺 它并不用特殊的語言結構擴展C/C++,而是采用建立C++類型庫的方法,仍然使用ANSI-C++編譯器。包括一個C++類型庫和一個小巧的模擬器內核 OSC Kit和授權 目的:互操作性 源碼修改: 成員共享 商用授權通過代理,統(tǒng)一的SystemC語言,34,SystemC架構 Core僅提供一小組constructs,建立與硬件結構化描述、并發(fā)、通信、同步等有關的描述模型,35,SystemC克服C/C++不具并發(fā)性、無時間概念、缺少硬件類型的通信、重啟動和多數(shù)據(jù)種類 模塊:SC_MODULE,是結構化、層次性實體,內部可含其他module或進程(process)。模塊的constructor是SC_CTOR 進程:PROCESS,非層次性,由敏感信號引發(fā),有三種 方法:SC_METHOD,無自己的執(zhí)行線程 線程:SC_THREAD,有自己的執(zhí)行線程 時鐘線程:SC_CTHREAD,必須同時指定時鐘,敏感信號即時鐘 端口:PORT,單、雙向 信號:SIGNAL 分辨(resolved)信號:sc_signal_rv,具有多個驅動源,須接分辨端口 非分辨(unresolved)信號 時鐘:SC_CLOCK,按時序正確模擬硬件的并發(fā)事件 多種數(shù)據(jù)類型:sc_bit; sc_logic; sc_int; sc_uint; sc_bigint; sc_biguint; sc_bv; sc_lv; sc_fixed; sc_ufixed; sc_fix; sc_ufix; 等 基于周期(cycle-based)的模擬內核:可以實現(xiàn)快速模擬 支持多種抽象級別:系統(tǒng)級、算法級、RTL等 通信協(xié)議:提供多種通信語義義以在不同抽象級別描述SoC和系統(tǒng)I/O協(xié)議,36,描述D觸發(fā)器的例子 最新版本:SystemC 2.0.1,2001年,作者 Synopsys, Inc.:Stan Y. Liao, etc. CoWare, Inc.:Harish Sarin, etc.,VHDL Library ieee; Use ieee.std_logic_1164.all; Entity dff is Port(clock: in std_logic; Din: in std_logic; Dout: out std_logic); End dff; Architecture rtl of dff is Begin Process Begin Wait until clock’event and clock=‘1’; Dout=din; End process; End rtl,Verilog Module dff(din, clock, dout); Input din; Input clock; Output dout; Reg dout; Always @(posedge clock) Dout=din; End module,SystemC // dff.h #include “systemc.h” SC_MODULE(dff) { Sc_in din; Sc_in clock; Sc_iout dout; Void doit() { Dout=din; } SC_CTOR(dff) { SC_METHOD(doit); Sensitive_pos clock; } };,37,SOC的設計任務與流程 要求系統(tǒng)級廠商與半導體廠商更加密切的結合,38,需要統(tǒng)一的語言:統(tǒng)一的C/C++語言風格,使工業(yè)界能夠實現(xiàn) 系統(tǒng)級IP的模型建立與交換 可互操作的工具構架的建立,39,采用統(tǒng)一的SystemC設計方法,40,系統(tǒng)級HW/SW協(xié)同設計、功能塊產生、系統(tǒng)集成,41,SOC的高復雜性使驗證成為設計的主要任務 傳統(tǒng)模擬驗證方法的問題 需要合理而充分地選取輸入激勵圖案 不完備(incompleteness) ,不能完全保證正確性 模擬時間太長,占據(jù)50%以上工作量 模擬結果需要手工比較 解決方法:快速與完備性驗證 靜態(tài)驗證(STV or STA, Static Timing Verification or Analysis; FV, Formal Verification) 快速模擬(CBC, Cycle Based Simulation; NCC, Native Compiled Code Simulator) 硬件仿真(Hardware Prototype)、并行與分布式處理,SOC驗證問題,42,靜態(tài)時序分析(STA) 方法:將整個設計分成路徑集合,計算每個路徑的延時,檢驗是否違反時序要求 優(yōu)點:覆蓋所有路徑,不需要輸入激勵圖案,速度比傳統(tǒng)的動態(tài)時序模擬方法快若干數(shù)量級倍,因而具有幾百萬門規(guī)模的分析能力,它還可以給出充分的時序違反報告 缺點:仍然是不完備的驗證,需要采用形式驗證方法進行功能等價性檢驗 形式驗證(Formal Verification)方法 優(yōu)點 從數(shù)學上完備地驗證電路實現(xiàn)對設計規(guī)范的符合性或正確性 用數(shù)學方法直接比較驗證,不需要輸入激勵圖案 可以進行從系統(tǒng)級到門級驗證,速度快,43,形式驗證種類 等價性驗證:兩個方案的等價性。用于低層次驗證,已有商品化工具 性質驗證:驗證方案是否滿足用戶給定的某些規(guī)則或性質,用于高層次驗證,尚不成熟 模型判別(Model Checking):把要驗證的時序電路抽象為有限狀態(tài)機(FSM)模型,用計算樹邏輯(CTL)時態(tài)語言描述規(guī)則或性質,采用狀態(tài)機分析或態(tài)空間搜索驗證符合性 語言包含(Language Containment):驗證兩個自動機方法間的語言包含關系 符號軌跡求值(Symbolic Trajectory Evaluation):用符號變量代替?zhèn)鹘y(tǒng)模擬方法中的確定布爾值,一個周期就可得到所有可能的輸出結果。只適于組合電路,44,采用符號模型驗證(SMV)方法,通過電路態(tài)空間窮盡搜索確認系統(tǒng)規(guī)范 用二叉決策圖(BDD)建立FSM模型表示電路:BDD是一個有向無環(huán)圖,電路可以用有序節(jié)點+邏輯值邊的集合—有序BDD表示 用CTL時態(tài)語言描述規(guī)則或性質:包括A(All)、E(Exist) 兩種路徑量詞, G(Global)、X(Next)、F(Final)、U(Until) 四種時態(tài)操作符,組合得到八種CTL時態(tài)操作符:Ex f,E [f U g],EG f,AX f,EF f,AF f,AG f,A [f U g] 符號模型判別(Temporal Logic Model Check):計算FSM模型的合法狀態(tài)空間S;計算滿足待驗證的CTL性質的狀態(tài)集合T;然后比較是否有T ? S。若態(tài)s ? S但s ? T,則說明電路有些態(tài)不滿足待驗證性質,45,智權(IP)模塊與設計復用,SOC設計是基于IP的嵌入式設計,uP DSP Memory I/O Specialty Control Analog RF,46,IP模塊的屬性 芯片系統(tǒng)組成 MCU核;DSP核;Memory核;總線與接口模塊 模擬電路、RF處理器;數(shù)字模擬混合信號電路 嵌入式軟、硬件 IP模塊 由相應模塊的專家完成,通過授權的技術轉移被用到芯片系統(tǒng)中 IP模塊必須具有可復用特征 有軟件、固件、硬件三種形式 硬核(Hardcore):經投片驗證的版圖。代價最高,可重復使用性最低。IP商提供的在特定工藝下的版圖級模塊,系統(tǒng)商不能進行任何改動。相當于庫單元。則IP商的知識產權可完全得到保護 軟核(Softcore):可綜合RTL模型??芍貜褪褂玫撵`活性最高 固核(Firmcore):帶有布局規(guī)劃信息的邏輯門級網(wǎng)表。 IP商提供的與工藝無關的RTL代碼或門級網(wǎng)表。系統(tǒng)商可根據(jù)需要改動,靈活性大。但IP商的知識產權不易得到保護,47,48,IP設計方法及在SOC設計中的應用 SOC設計是基于IP的嵌入式設計:關鍵技術是設計再利用 設計的可重復使用性、可重復綜合性、可重復集成性 在各個層次上使用IP模塊 IP設計方法及在SOC設計中的應用 IP模塊的設計:包括IP模塊的確定和定義、Soft/ Firm/Hard Core的標準化模塊設計和生成、 IP模塊的參數(shù)化和可復用性研究 IP模塊的利用:包括IP模塊間的通信和接口綜合技術,SOC中IP模塊的驗證、測試和容錯技術 SOC設計的“IP化”(即基于IP的SOC設計技術):包括面向可復用IP模塊的系統(tǒng)芯片集成、可靠性設計以及性能優(yōu)化技術 關鍵IP模塊研究與開發(fā) 主要應用市場為3C領域,合占整個市場需求的90% 針對多媒體、數(shù)字移動電話、Internet硬件、 VCD/DVD、 CD/DVD-ROM硬驅、數(shù)碼相機、數(shù)字攝象機等應用 Star-IP:MPU和MCU;DSP;MPU(MCU)和 DSP的結合稱異構雙核 外圍-IP:總線、外設接口、時鐘、I/O。。。 模擬/混合信號IP:A/D、D/A、PLL、RF前端。。。,49,虛擬插座接口聯(lián)盟(VSIA) 標準化的重要性:1996年9月成立國際虛擬插座接口聯(lián)盟(VSIA)組織。三個目標是 通過描述、推薦一組硬件和軟件接口、格式與設計經驗加速虛擬元件(VC)的設計復用 采用分割—取勝方法學,把設計復用問題分解到元件級,按市場驅動和實用方式各個擊破 為公司從各自習慣的設計方法轉移到能夠使用第三家VC標準化設計方法提供基礎,并進一步形成公司間基于因特網(wǎng)的VC交換的產業(yè)化 工作步驟 VSI架構文本(Architecture Document):已發(fā)布版本V1.0 建立VC術語 定義VC設計商需提供的VC內容(deliverables)和數(shù)據(jù)格式 VC內容(deliverables):V2.4.1 設開發(fā)工作組(DWG),細化deliverables 選擇典型的、可公開的VC,定義推薦的提供內容,如測試、邏輯設計、物理設計、通信協(xié)議、總線接口等 進一步擴展到包括模擬/混合信號設計、參數(shù)化VC、可綜合行為模型的提供等,逐步完善 DWG根據(jù)需要設立和變化,最初6個,后來8個,現(xiàn)在9個,50,九個DWG的任務(隨形勢發(fā)展而增設與取消) 系統(tǒng)級設計:V2.1。定義與SOC系統(tǒng)級設計相關的VC共性術語,使VC用戶可以評估與選擇,包括帶寬、功能、編碼尺寸和性能等 混合信號設計:短期目標是開發(fā)把已存在的硬混合信號模塊集成到大數(shù)字系統(tǒng)的集成、測試標準與指南 實現(xiàn)/驗證:V1。定義基于VC的系統(tǒng)的實現(xiàn)與驗證所需要的數(shù)據(jù)表示標準。內容廣泛,既涵蓋與工藝無關的系統(tǒng)級設計及特定工藝實現(xiàn)、又涵蓋給定工藝的邏輯與物理設計 硬件發(fā)展的軟件 實現(xiàn) IP保護:V1.0。定義保護基于IP提供者商業(yè)需要的各種形式VC價值的知識產權的機構 制造相關的測試:定義對測試架構可選插座系列類型,各種VC接口需與之兼容 片上總線:V2。評估已有總線標準,產生一個VC間通信可選用的總線目錄,必須具有可擴展性和可測試性 基于平臺的設計 VC的質量 VC的移植:V2.2。定義格式、屬性等 功能的驗證,51,思考題 DSM/VDSM與納米尺度IC設計 在深亞微米/超深亞微米及納米尺度下,影響器件、邏輯元件、互連線模型精確度的因素有哪些? 什么是設計收斂性問題?是如何發(fā)生的?應當如何解決? 為什么在納米尺度下,互連線會引起信號完整性和電源/地線的IRDrop問題?它們對性能有哪些影響? SOC設計、驗證與IP復用 什么是SOC的軟硬件協(xié)同設計?主要包含哪些內容? 傳統(tǒng)的驗證方法存在哪些問題?現(xiàn)在提出哪些解決方法? 什么是基于IP的SOC設計方法?對IP有哪些要求?,本講結束,,52,- 配套講稿:
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