電子探針

1、電子探針?lè)治黾夹g(shù)在地學(xué)中的應(yīng)用進(jìn)展 摘要 電子探針?lè)治黾夹g(shù) EPMA 是一種應(yīng)用較早 且至今仍具有獨(dú)特魅力的多元素分析技術(shù) 二戰(zhàn)以后 世界經(jīng)濟(jì)和社會(huì)的迅猛發(fā)展極大地促進(jìn)了科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步 電子探針?lè)治黾夹g(shù) EPMA 也進(jìn)。

2、掃描電鏡和電子探針在 材料科學(xué)中的應(yīng)用,現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)課題論文,指導(dǎo)老師：bbgcka 班 級(jí)：ssrhjh 姓 名：trsyrw,目 錄,1、背景 2、工作原理 （1）掃描電鏡的工作原理 （2）電子探針的工作原理 3、應(yīng)用 （1）掃描電鏡的應(yīng)用 （2）電子探針的應(yīng)用 4、參考資料,1、背 景,掃描電子顯微鏡和電子探針由于其制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)，故被廣泛地應(yīng)用。

3、電子探針中傳感器的應(yīng)用,1.電子探針的基本原理 2.傳感器的種類(lèi) 3.傳感器與電子探針中的應(yīng)用,電子探針的基本原理,由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長(zhǎng)，通過(guò)探測(cè)這些不同波長(zhǎng)的X射線來(lái)確定樣品中所含有的元素，這就是電子探針定性分析的依據(jù),電子探針圖例,傳感器的種類(lèi),按照其用途，傳感器可分類(lèi)為：壓力敏和力敏傳感器、位置傳感器、液面?zhèn)鞲衅?、能耗傳感器、速度傳感器、加速度傳感器、射?/p>

4、第11章 電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀) (EPMA),X射線顯微分析儀,1. 引言 此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA, EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系，然而，就當(dāng)初研制的目的來(lái)說(shuō)卻是完全不同的。第一臺(tái)商品EMA出現(xiàn)在50年代后期，比掃描電鏡子5年。Raymond castaing (1951) 論述了電子探針的基本概念。他講述了自己設(shè)計(jì)。

5、電子探針X射線顯微分析儀 （X-Ray Electron Probe Microanalyzer，EPMA） 1.1 概述 1.2 EPMA基本原理 1.3 儀器基本結(jié)構(gòu) 1.4 定性定量分析方法 1.5 樣品制備 1.6 定量分析的步驟及注意事項(xiàng),1.1 EPMA 概述,電子探針X射線顯微分析儀(Electron probe X-ray microana。

6、電子探針X射線顯微分析,一、引言,電子探針X射線顯微分析（簡(jiǎn)稱(chēng)電子探針顯微分析）（Electron Probe Microanalysis，簡(jiǎn)稱(chēng)EPMA），它用一束聚焦得很細(xì)（50nm）的加速到5kV-30kV的電子束，轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個(gè)“點(diǎn)”（一般直徑為1-50um），利用試樣受到轟擊時(shí)發(fā)射的X射線的波長(zhǎng)及強(qiáng)度，來(lái)確定分析區(qū)域中的化學(xué)組成。,一、引言,EPMA是一種顯微分析和。

7、一、簡(jiǎn)介 二、基本物理概念 三、主要參數(shù) 四、工作模式與襯度原理 五、主要部件 六、應(yīng)用舉例 七、電子探針,掃描電子顯微鏡與電子探針 (Scanning Electron Microscope 簡(jiǎn)稱(chēng)SEM and Electron Probe Micro-analysis 簡(jiǎn)稱(chēng)EPMA ),一、簡(jiǎn)介,SEM是利用聚焦電子束在樣品上掃描時(shí)激發(fā)的某種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制一個(gè)同步掃描的顯象管在相應(yīng)位置的亮度而。

8、獨(dú)居石電子探針定年理論、方法和應(yīng)用,北京大學(xué)造山帶與地殼演化教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,劉樹(shù)文,獨(dú)居石電子探針定年理論、方法和應(yīng)用,電子探針化學(xué)定年法的研究歷史與現(xiàn)狀 電子探針化學(xué)定年法的優(yōu)勢(shì)和限度 獨(dú)居石的基本特性 基本原理 實(shí)驗(yàn)技術(shù)和分析方法 計(jì)算方法 應(yīng)用范圍和應(yīng)用實(shí)例,一.電子探針化學(xué)定年法研究歷史與現(xiàn)狀,最早是由日本名古屋（Nagoya）大學(xué)年代測(cè)試中心鈴木和博（K. Suzuki）教授于1985。

9、電子探針X射線顯微分析,一、引言,電子探針X射線顯微分析（簡(jiǎn)稱(chēng)電子探針顯微分析）（Electron Probe Microanalysis，簡(jiǎn)稱(chēng)EPMA），它用一束聚焦得很細(xì)（50nm）的加速到5kV-30kV的電子束，轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個(gè)“點(diǎn)”（一般直徑為1-50um），利用試樣受到轟擊時(shí)發(fā)射的X射線的波長(zhǎng)及強(qiáng)度，來(lái)確定分析區(qū)域中的化學(xué)組成。,一、引言,EPMA是一種顯微分析和。

10、第八章 掃描電子顯微鏡與電子探針 顯微分析 內(nèi)容提要： 第一節(jié) 電子束與固體樣品相互作用時(shí) 產(chǎn)生的物理信號(hào) 第二節(jié) 掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理 第三節(jié) 表面形貌襯度原理及其應(yīng)用 第四節(jié) 原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用 第五節(jié) 電子探針 X射線顯微分析 引 言 SEM用于材料分析的特點(diǎn) 儀器分辨本領(lǐng)較高。 二次電子像分辨本領(lǐng)可達(dá) 1.0nm(場(chǎng)發(fā)射 ),3.0nm(鎢燈絲 )；。

11、電子探針技術(shù)在金銀花品質(zhì)鑒定中的應(yīng)用4600字 品質(zhì)鑒定；,金銀花；,元素含量；, 電子 探針 畢業(yè) 摘要：目的建立中藥材金銀花道地性和非道地性及其品質(zhì)區(qū)分新 方法 。方法利用電子探針技術(shù)對(duì)同一生境中兩種不同種質(zhì)金銀花單個(gè)葉肉細(xì)胞內(nèi)元素進(jìn)行定量 分析 。 結(jié)果生活在石灰土壤環(huán)境中的金銀花，受環(huán)境條件 影響 其葉細(xì)胞中的元素含量共同表征為Ca多Mg少，并且P的含量?jī)H次于Ca的含量；忍。

12、電 子 探 針 顯 微 分 析第 十 二 章 12 1電 子 探 針 儀 的 結(jié) 果 與 原 理l 電 子 探 針 的 主 要 功 能 是 進(jìn) 行 微 區(qū) 成 分 分析 。l 使 用 細(xì) 聚 焦 電 子 束 入 射 樣 品 表 面 ， 激。

13、第 八 章 掃 描 電 子 顯 微 鏡 與 電 子 探 針第 一 節(jié) 掃 描 電 子 顯 微 鏡 掃 描 電 子 顯 微 鏡 由 于 它 具 有 制 樣 簡(jiǎn) 單 ， 放 大 倍 數(shù) 可 調(diào) 范 圍 寬 ， 圖 像的 分 辨 率 高 ， 景。

14、4.3 電子探針X射線顯微分析 X射線顯微分析l X射線能譜儀EDSl X射線波譜儀WDSl EDS與 WDS間的比較l X射線顯微分析在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用 X射線能譜儀EDSl它時(shí)掃描電鏡的重要附件之一，利用它可以對(duì)試樣進(jìn)行元素定性半定。

15、第二十三章 掃描電子顯微分析與電子探針 第一節(jié) 掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造 p一工作原理 圖221 掃描電子顯微鏡原理示意圖 二構(gòu)造與主要性能 p掃描電子顯微鏡由電子光學(xué)系統(tǒng)鏡筒偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)圖像顯示和記錄系統(tǒng)電源系統(tǒng)和真空系統(tǒng)。

16、圖2.1 定性分析一例 圖2.2 線分析一例 TaSiNi合金 圖2.5 X射線顯微分析儀結(jié)構(gòu)示意圖 圖2.5 X射線顯微分析儀結(jié)構(gòu)示意圖 圖2.5 X射線顯微分析儀結(jié)構(gòu)示意圖 圖2.5 X射線顯微分析儀結(jié)構(gòu)示意圖 圖2.6 X射線顯微分。